СНГ

Россия: 8-800-200-01-28; Украина: 0-800-307-28-80;
Казахстан: 8-800-080-05-43 (звонок бесплатный)

SAP СНГ - ближайшие мероприятия

Аналитический характер основ новой научной системы перспективы

17.09.2019


Аналитический характер основ новой научной системы перспективы позволяет решать задачу, принципиально недоступную ренессансной системе перспективы: численное сравнение геометрии получаемого изображения с естественным зрительным восприятием. На этом пути открывается возможность определения ошибок (отклонений от естественного видения) в каждом конкретном перспективном изображении и уточнения характера этих ошибок (ошибки передачи масштаба, подобия и глубины).


Теоретический анализ ошибок изображения показал, что идеальной, безошибочной системы перспективы существовать не может. Любая научная система перспективы обязательно содержит ошибки, и поэтому при искусствоведческом анализе надо сравнивать перспективные построения с естественным зрительным восприятием, а не с какой-лйбо системой, принимаемой за научно правильную (до последнего времени такой считалась ренессансная). Проведенное сравнение разных вариантов научной системы перспективы убеждает в том, что эти разные варианты (в том числе и ренессансный вариант) отличаются друг от друга тем, на какие элементы изображения смещены неизбежные ошибки.


Планируете переезд? Лучшая мувинговая компания Алсена окажет весь спектр услуг. Соотношение цена/качество вас приятно удивит.


Многовариантность системы научной перспективы открывает возможность выбора того или иного варианта исходя из решаемой художником задачи. На этом пути в такую формализованную, основанную на законах психологии зрительного восприятия и математики область, как система научной перспективы, вторгается эстетическое начало. Выбор наилучшего варианта перспективных построений естественным образом становится зависимым от стоящей перед художником задачи. Это тем более правильно, что во многих случаях все варианты научной системы перспективы математически равноценны (характеризуются одной и той же величиной суммы ошибок).







Материалы конференции
Sap Форум 2011, Москва
Материалы конференции
Sap Форум 2011, Алушта